Dersin temel amacı mikro- ile nano-metre skalasında içyapı görüntüleri elde etmede kullanılan yöntemleri öğrenmektir. Özellikle taramalı elektron mikroskobu (SEM) ve ona bağlı enerji dağılımlı X-ışınları spektrometresi (EDS) sistemlerinin çalışma prensiplerine değinilecektir. Takiben, mikroskoplar yardımıyla elde edilen içyapı görüntülerü üzerinde dijital görüntü işleme teknikleri kullanarak yapılabilecek nitel ve nicel ölçümlere değinilecektir.Son olarak görüntülerin işlenmesiyle elde edilecek sayısal ölçüm verisi ile temel malzeme özellikleri arasında bağlantılar gösterilecektir.